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微米粒度

先进的激光阻隔时间分析技术(LOT)配合专业图像分析技术,可快速准确地进行从纳米到微米的粒度、粒形分析:

      - 监测动力学过程

      - 通过记录大小vs形状绘制多维数据

      - 分析复杂数据以反应分布中的次要分布

      - 通过从数据库中调用记录图片来识别分布中的单个粒子

      - 生成标准体积和数量分布结果

      - 通过使用视频的精密动态图像分析技术,准确描述非球形材料

      - 测量结果与颗粒或介质的物理光学特性无关


010-62081909

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